SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪与 Quarch Power Analysis Module（PAM）集成

我们今天的高清视频对 SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪集成 Quarch 公司的 PAM（Power Analysis Module）功能，以及其已有功能 - 对边带（Sideband）信号的实时监控与 Trace 抓取的特点进行了详细演示。视频重点如下：

一、集成 PAM 模块的主要优势

1. 实时采集电压、电流及功耗数据
• 分析仪自带的 PAM 能够同步获取 12V、3.3V 等不同电压通道的电压与电流信息，并计算功耗。
• 在抓取 PCIe Trace（协议包）数据的同时，即可关联并记录相应时刻的电压、电流变化，使工程师能够更轻松地分析系统在不同协议操作阶段的功耗波动情况。
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3. 数据在同一 Trace 中呈现，关联度高
• 在 SerialTek 分析仪的软件界面中，用户可选定采样频率（如 1 ms、8 µs 等）并将 PAM 数据与协议分析的时间轴合并显示。
• 当捕获到某些特定协议事件或异常时，可在相同时间线上对比功耗、信号波形的变化趋势，快速定位系统级问题。
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5. 免去额外硬件测试需求
• 集成式 PAM 让用户不需要额外使用示波器或独立的功耗测试仪来测量电压、电流；一台分析仪即可同时完成功耗和协议层的调试工作。
• 这不仅简化测试环境，也有效减少多设备切换时可能带来的同步和数据对齐难题。

二、边带（Sideband）信号实时监控与 Trace 抓取

1. 支持多种关键 Sideband 信号
• 分析仪可对      PERST、CLKREQ#等常见边带信号进行拉高/拉低状态捕捉，也可对时钟差分信号进行观测。
• 这些边带信号与主数据链路一样，可以实时进行采集，并在同一软件界面中查看波形及状态变化。
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3. 时间轴集中展示
• 系统上电（Power On）或重启（Reset）时，用户能在一条时间线上同时看到电压/电流上升、边带信号拉高、以及 PCIe 协议链路训练等过程。
• 通过软件的放大或缩小功能，可以精确对比哪一条边带信号先变动，或在何时出现功耗骤升，从而确定各事件间的先后关系。
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5. 问题排查效率提升
• 当设备在启动或特殊操作过程中出现无法上电、链路不稳定等问题时，通过同时查看      PAM 功耗曲线 与 Sideband 信号       的状态切换，可以快速找出故障点，明显提升问题定位与分析效率。

三、典型使用流程简述

1. 启用 PAM 功能
• 在分析仪配置界面（Capture Settings）中勾选 Quarch PAM 并设置采样频率。
• 在进行 PCIe Trace 抓取时，自动记录相同时间轴上的电压、电流信息。
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3. 开始数据采集并抓取 Trace
• 分析仪启动后，即可在主界面看到电压、电流的实时数值变化。
• 结束抓包后，进入软件提供的 Live Trace 或 Timeline 界面，即可将数据包与功耗波动进行对照、放大、查询。
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5. 查看边带信号
• 在相同界面中，分析仪将      PERST、CLKREQ#、时钟信号       等边带信息以波形或逻辑电平形式呈现。
• 用户可放大关键时间点查看各信号在上电、复位等过程中的具体变化。
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7. 综合分析
• 观察协议事件（如链路训练、错误恢复）对应的功耗曲线涨落情况。
• 对比边带信号变化顺序，排查开机或进入某些低功耗模式时的异常。

四、视频演示总结

• 高集成度：
• 将 Quarch 的 Power Analysis Module 融合到 SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪，使得电压、电流及功耗的实时量测与协议 Trace 抓取同步进行。
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• 完整性强：
• 在一处集中查看协议数据包、边带信号和功耗变化，分析工程师无需再通过多台仪器、繁琐对比来定位问题。
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• 调试效率提升：
• 通过实时观察电气/功耗与协议侧事件（包括链路配置、上下电）间的关系，可大幅缩短问题定位与测试迭代时间。

综上所述，SerialTek PCIe 6.0 协议分析仪与 Quarch PAM 的紧密结合，为调试工程师提供了从协议到硬件功耗、sideband边带信号的全方位可视化与分析手段，让 PCIe 设备在高速设计与验证环节中的故障定位和性能优化更加高效、准确。

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