我们在做SSD测试的时候,经常在研发阶段需要将SSD放入温箱做一些测试,但是这些测试主机又必须在温箱外面,咋办呢?
我们今天的视频,直观演示了,如何使用PCIe 5.0 Switch卡插入台式机/工作站的PCIe 5.0 x16 插槽,然后在该switch卡上面通过4根MCIO x4转接U.2或者EDSFF的0.5m或者1m的cable穿过温箱墙壁的过孔,将U.2或者E3.S/E1.S等EDSFF SSD放入线缆另外一头,从而放在温箱内部实现高低温测试的演示。视频分成两部分,第一部分是讲述,第二部分是实际演示操作。
下面是本期视频的文字总结。
一开始其实讲得很直接,就是一个很现实的问题:
👉 U.2 SSD做高低温测试很麻烦
正常情况下你怎么测?
问题在于:
所以视频一开始的核心就是:
👉 有没有一种更轻量、更灵活的测试方式,可以把盘“单独拎出来”丢进温箱?
👉 用MCIO把PCIe信号“引出来”,再转成各种SSD接口
这一点非常关键:
核心就是:
👉 MCIO → 各种SSD形态(通过不同cable)
这样你就可以:
👉 做测试最怕什么?不是设备贵不贵,而是变量太多
重点是:
到底是:
所以这里强调一句话:
👉 这套方案本身的信号质量是“可信的”,可以当作基准环境(类似golden环境)
然后开始拆解硬件,其实就三块:
没啥特别的
这个线是整个方案的关键:
几个关键点:
👉 这里隐含一个坑:
你必须把供电也一起拉进温箱,不然盘是起不来的
这个其实是整个系统的“大脑”:
关键能力:
👉 而且这里有个很重要的信息:
这张卡是PCI-SIG测试用的golden卡
也就是说:
👉 信号质量已经被行业验证过了
接下来就进入实际连接流程了,这一段其实很实用。
👉 说明平台已经起来了
这里分两种情况:
👉 然后电源放在温箱外
最后一部分是验证,比较工程化。
输入命令(类似showport)
可以看到:
👉 重点在于:
链路状态和系统里看到的是一致的
视频里提到一个细节:
但结论是:
👉 不影响测试,属于平台差异,不是问题
最后其实可以总结一下这套东西到底解决了什么:
👉 这套方案本质就是:
用Gen5 switch + MCIO线,把PCIe设备“解耦”出来,实现可控、可扩展、可进温箱的SSD测试环境
链接: https://pan.baidu.com/s/1R-tJEqwBlzBaDR0WLuMU0Q?pwd=9av3 提取码: 9av3
如果你有其任何关于PCIe5&6.0, CXL, NVMe/NVMoF, NAND, DDR5/LPDDR5以及UFS测试方面的我问题想咨询,请访问:访问www.saniffer.cn / www.saniffer.com 访问我们的相关测试工具和产品;或者添加点击左下角“阅读原文”留言,或者saniffer公众号留言,致电021-50807071 / 13127856862,sales@saniffer.com。